Jueves, 25 de julio
Tradicionalmente, los métodos fotométricos se utilizan para determinar la concentración de un metal específico en una corriente de proceso. Sin embargo, las interferencias metálicas en los métodos fotométricos plantean desafíos importantes, lo que lleva a lecturas inexactas de los analitos objetivo. La fluorescencia de rayos X en línea (XRF) es una técnica poderosa y eficiente que ofrece una solución a estos desafíos y puede usarse para monitorear múltiples analitos simultáneamente.
Únase a este seminario web de nuestra representada Metrohm para obtener más información sobre los principios de XRF y, por primera vez, vea cómo la tecnología XRF ahora está disponible en 2060 Process Analyzer. Se anima a los líderes de procesos de industrias como la fabricación, la minería y el procesamiento químico a asistir para tener la oportunidad de interactuar con los oradores y hacer preguntas sobre esta nueva innovación.
Puntos claves de aprendizaje:
- Conozca los principios de la tecnología XRF y sus ventajas en el análisis de procesos
- Descubra cómo el analizador de procesos XRF 2060 permite el monitoreo en tiempo real y acciones correctivas inmediatas para mantener la calidad de la producción.
- Descubra las aplicaciones de XRF en la fabricación, la minería y el procesamiento químico y cómo beneficia a diferentes industrias.
Webinar: Innovating Process Analysis with XRF
Fecha: Jueves, 25 de julio
Hora: 01:00 PM Chile
Duración: 1 hora
Idioma: Inglés
Melvyn Becerra & Cía. Ltda. es representante de Metrohm en Chile. Ante cualquier consulta no dude en comunicarse con nosotros a través de nuestros diversos canales.