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Las técnicas de microscopía electrónica (SEM y TEM) ofrecen a investigadores de todo el mundo la capacidad de generar imágenes con asombrosos detalles y alta resolución. Sin embargo, el uso de un haz de electrones en estas técnicas puede presentar problemas con materiales que son poco conductores de electricidad o sensibles al calor.
Ciertas configuraciones en el SEM pueden reducir estos efectos, pero la solución preferida es tratar dichas muestras con una película delgada continua y conductora mediante recubrimiento por pulverización."
“El LUXOR Pt se utiliza normalmente para aplicaciones de imágenes SEM con un aumento de 50.000x en adelante, donde la carga de la muestra puede ser un problema. Aplica la exclusiva tecnología A² para recubrir sus muestras con una capa de platino homogénea.
El recubridor por pulverización catódica se suministra con todos los accesorios y piezas auxiliares. Combinado con la bomba de vacío opcional, forma una unidad de recubrimiento por pulverización catódica completamente funcional. También se encuentran disponibles portamuestras para clavijas estándar, clavijas cilíndricas y muestras con resina incrustada.”
“El LUXOR Au se utiliza normalmente para aplicaciones de imágenes SEM con un aumento de hasta 50.000x, donde la carga de la muestra puede ser un problema. Aplica la exclusiva tecnología A² para recubrir sus muestras en aire o argón con una capa homogénea de oro u oro/paladio.
El recubridor por pulverización catódica se suministra con todos los accesorios y piezas auxiliares. Combinado con la bomba de vacío opcional, forma una unidad de recubrimiento por pulverización catódica completamente funcional. También se encuentran disponibles portamuestras para clavijas estándar, clavijas cilíndricas y muestras con resina incrustada.”
