“SEM y EDS integrados
Facilidad de uso
Elementos de submicrómetro”
Bienvenidos a Phenom Desde la introducción de los microscopios de electrones en la década de 1930, la microscopía electrónica de barrido (SEM) se ha convertido en una herramienta fundamental dentro de numerosos campos de investigación distintos que abarcan desde la ciencia de los materiales hasta la ciencia forense, la fabricación industrial e incluso las ciencias de la vida. Los instrumentos SEM de escritorio tienen una facilidad de uso mejorada, haciendo accesible la tecnología SEM. Además, tienen la ventaja de tener tamaño de marco reducido, incluso algunos han trasladado sus SEM a otras ubicaciones, proporcionando el análisis de microscopía electrónica in situ a través de laboratorios móviles.
“SEM de escritorio versátil con software de automatización para pulcritud técnica
Resolución de <10 nm; aumento de hasta 200.000x
Detector SE opcional"
“SEM de escritorio versátil con software de automatización para fabricación de aditivos
Resolución de <10 nm; aumento de hasta 200.000x
Detector SE opcional"
“SEM de escritorio GSR automatizado exclusivo
Resolución de <10 nm; aumento de hasta 200.000x
Fuente CeB6 de larga duración"
“SEM de escritorio de nivel básico
Resolución de <25 nm; aumento de hasta 65.000x
Fuente CeB6 de larga duración"
“SEM de escritorio de alto rendimiento
Resolución de <8 nm (SE) y <10 nm (BSE); aumento de hasta 150.000x
Detector SE opcional"
“SEM de escritorio de alto rendimiento con detector EDS integrado
Resolución de <8 nm (SE) y <10 nm (BSE); aumento de hasta 150.000x
Detector SE opcional"
“Para muestras grandes (100 x 100 mm) e ideal para automatización
Resolución de <10 nm y aumento de hasta 200.000x; tensión de aceleración desde 4,8 kV hasta 20 kV
Detector de EDS y BSE, totalmente integrado, opcional"
“Fuente FEG con un rango de tensión de aceleración desde 2 hasta 15 kV
Detector de EDS y SE, totalmente integrado, opcional”